- Zastosowanie spektroskopii fotoelektronowych (XPS/ESCA, XAES, UPS), elektronowych (AES) i jonowych (SIMS) do analizy składu powierzchni
- Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) do analizy morfologii powierzchni
- Zastosowanie spektroskopii fotoelektronów (SR PS) oraz rozpraszania elektronów niskiej energii (LEED) uzyskanych z promieniowania synchrotronowego do badania adsorbatu gazowego na zorientowanych powierzchniach
- Zastosowanie elektrochemicznych metod analitycznych (CV, EIS) do analizy procesów elektrochemicznych