This user has not added any information to their profile yet.
- Zastosowanie spektroskopii fotoelektronowych (XPS/ESCA, XAES, UPS), elektronowych (AES) i jonowych (SIMS) do analizy składu powierzchni - Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) do analizy morfologii powierzchni - Zastosowanie spektroskopii fotoelektronów (SR PS) oraz rozpraszania elektronów niskiej energii (LEED) uzyskanych z promieniowania synchrotronowego do badania adsorbatu gazowego na zorientowanych powierzchniach - Zastosowanie elektrochemicznych metod analitycznych (CV, EIS) do analizy procesów elektrochemicznych
